快速溫變?cè)囼?yàn)箱滿足試驗(yàn)方法：
1. gb2423.1-2008/iec6008-2-1-2007第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)a：低溫
2. gb/t 2423.2-2008 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)b：高溫
3. gjb150.3a－2009 高溫試驗(yàn)方法
4. gjb150.4a－2009 低溫試驗(yàn)方法
5. gb2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
6. gbt 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
7. gb/t 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.gbt 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)a和b(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量