奧林巴斯顯微鏡的微分干涉對比法觀察步驟
奧林巴斯顯微鏡的微分干涉對比法又簡稱dic觀察法，在工業(yè)上有著廣泛的應(yīng)用，如lcd行業(yè)tft導(dǎo)電粒子的檢查，電容式觸摸屏的線路檢查，磁頭的檢查等都是用上dic觀察法。dic觀察是將用明視野法可能觀察不到的試樣高度微小差異通過改善對比法變?yōu)榱Ⅲw或三維圖像的顯微觀察技術(shù)。照明光由微分干涉對比棱鏡變?yōu)閮墒苌涔?。這兩束衍射光使試樣高度差異造成在光路上的微小差異，而光路差異變?yōu)槔梦⒎指缮鎸Ρ壤忡R和檢偏振器的明暗對比，再利用敏感色板，加強(qiáng)了高度差異的顏色變化。在應(yīng)用過程中，有些使用者不知道dic的使用步驟，因此得不到想要的觀察效果。
奧林巴斯顯微鏡bx51m的dic觀察步驟
1.把偏光模塊，dic模塊推進(jìn)盡頭。
2.把明暗場桿撥到明場觀察的位置。
3.把檢偏鏡旋鈕上的白點(diǎn)旋到zui外面。
4.如果物鏡是長工作距離物鏡，則把dic模塊上的小拉桿拉出來，如果物鏡是常規(guī)工作距離物鏡則把推進(jìn)去。
5.對好焦，調(diào)dic模塊的旋鈕找的效果