對(duì)于亞微米以上的顆粒粒度測量，有許多表征方法：包括篩分、光學(xué)顯微鏡、沉積、激光衍射、電子和光學(xué)計(jì)數(shù)器。每種技術(shù)都有其優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)：計(jì)數(shù)方法有著很高分辨率，但不能與顯微鏡載玻片上的氣載顆?；蝾w粒一同使用；激光衍射法儀器測量速度很快，簡單易用，重復(fù)性也不錯(cuò)，但是測量分辨率較低；基于離心/沉降方法的儀器具有良好的分辨率和準(zhǔn)確性，但測量時(shí)間長且操作較繁瑣；顯微鏡測量可以獲得有關(guān)形狀的重要信息，但測量相對(duì)較慢，特別是對(duì)于寬分布，需要大量取樣速度就更慢了。篩分方法非常便宜，但測量分辨率過低，并且需要使用技巧和長期維護(hù)。
這幾年隨著相關(guān)技術(shù)的成熟，基于時(shí)間變換的激光光阻技術(shù)（tot）提供了令人興奮的優(yōu)點(diǎn)：
測量是在單個(gè)粒子上進(jìn)行的，因此分辨率相對(duì)較高；
與區(qū)域計(jì)數(shù)器不同，尺寸不是由脈沖高度決定的，而是由脈沖寬度決定，因此，測量系統(tǒng)無需校準(zhǔn)。
重要的是測量結(jié)果不依賴與被測樣品的物理/光學(xué)性質(zhì)。
lot 激光光阻法的基本原理：
圖1是基本的光路結(jié)構(gòu)。波長λ=632.8nm經(jīng)準(zhǔn)直的氦氖激光束通過楔形棱鏡（wp），該楔形棱鏡使光束偏離光軸，偏轉(zhuǎn)角為θd，wp以角頻率m=2πυ旋轉(zhuǎn)。透鏡（la）使用焦距為f的透鏡將光束聚焦為1.2mm的光斑尺寸（按照1/e2光強(qiáng)），旋轉(zhuǎn)聚焦的偏轉(zhuǎn)光束形成了空間直徑為d的圓，為了簡單起見 ，目前假定d >> dp（dp是顆粒直徑）。 顆粒以各種方式呈現(xiàn)在光束中：流動(dòng)或攪拌的液體中; 在光柵掃描的顯微鏡載玻片上;在流動(dòng)的空氣中; 或者干脆沉淀在空氣或液體中。光電二極管垂直于光軸放置在顆粒后面。
在光束穿過粒子的過程中，光電二極管上的信號(hào)較低。理想情況如圖2所示。通過測量脈沖寬度并乘以切向速度（vt=ωf tanθd），可以得到光束在粒子上行進(jìn)的距離。 這個(gè)距離與粒度相等，實(shí)際上， lot技術(shù)是從原始數(shù)據(jù)計(jì)算粒度的方法之一。
由于楔形透鏡的轉(zhuǎn)速遠(yuǎn)高于顆粒運(yùn)動(dòng)速度，在測量δt時(shí)，顆粒近似與靜置：
d=v× δt
其中 d是顆粒直徑；
v是光束旋轉(zhuǎn)速度
δt是遮蔽時(shí)間
盡管顆粒的折光指數(shù)與吸收會(huì)對(duì)信號(hào)波形有影響，但是與信號(hào)寬度無關(guān)。因此lot方法是真正的法測量，無需折光/吸光等物理或光學(xué)參數(shù)
可以對(duì)混合樣品進(jìn)行精確測定。
當(dāng)掃描顆粒非直徑區(qū)域時(shí)，對(duì)脈沖的影響為：
- 由于微粒邊沿是沿弦方向而非直徑傾斜，所以脈沖邊緣的陡峭度較小
- 脈沖振幅較小，因?yàn)榧す夤獍呖赡懿粫?huì)*被粒子遮擋，而在其邊緣處穿過。
圖像法：
不是所有顆粒都是能夠使用球型模型等效其粒徑的：纖維、棒狀、非規(guī)則形狀 -feret直徑、形狀因子與長寬比
對(duì)于纖維樣品的表征：lot+圖像法