概要
隨著dc／dc轉(zhuǎn)換器的開關(guān)頻率的不斷升高，穿刺噪聲的影響變得也越來越明顯。現(xiàn)在，盡管由于示波器的性能不斷的提高使得穿刺噪聲的觀測變得簡單了，但是要準(zhǔn)確得到實(shí)際穿刺噪聲的大小以及分析具體產(chǎn)生的原因還是和很多因素有關(guān)，例如使用正確的測試方法，外部使用器件的合適選擇，線路板線路的合理布局等等。
產(chǎn)生的原因
穿刺噪聲產(chǎn)生的原因主要分為兩大類:
1.測試方法
測試時(shí)，示波器的探針的不同連接方法對穿刺噪聲的測量有很大影響。
2.外圍使用器件的正確選擇和線路布局的影響
當(dāng)dc／dc轉(zhuǎn)換器在控制開關(guān)動(dòng)作完成的同時(shí)，肖特基二極管打開和截止的瞬間有逆向漏電流流過,同時(shí)開關(guān)打開和斷開的瞬間基板上有大的電流流過，造成基板上不同器件之間產(chǎn)生較大電位差；另外由于線圈的電磁波磁場的影響也會(huì)導(dǎo)致有較大的穿刺噪聲產(chǎn)生。
測試方法的改善
當(dāng)dc／dc轉(zhuǎn)換器工作的時(shí)候，可以用示波器觀察到在開關(guān)閉合和打開的瞬間，輸出電壓中會(huì)有幾百毫伏的穿刺噪聲信號產(chǎn)生，而且在測試的過程中，隨著探針測試方向的改變，噪聲信號的大小也會(huì)發(fā)生很大的變化。實(shí)際輸出電壓中的噪聲除了正確的測試方法以外，還受到其他因素的影響，因此要準(zhǔn)確測量輸出電壓中穿刺噪聲成份的大小，就需要避免由于測試探針受外界的環(huán)境的影響而增加的那部分噪聲信號，具體操作如下:
a:這種普通的測試探針由于地線比較長象天線一樣。
b:去除探針的接地端和探頭的屏蔽部份，容易受外界的環(huán)境影響。
c:然后直接把探頭的金屬端和輸出端連接，探針的地線部份和線路板的地線連接，這樣可以有效的防止外界噪聲的干擾。
同樣地線測試基準(zhǔn)點(diǎn)的選擇對于穿刺噪聲的大小也有著很大的影響,dc／dc轉(zhuǎn)換器后端的輸出電容的容值對于穿刺噪聲的實(shí)際值得大小也有著重要的影響。
應(yīng)用對策:
實(shí)際應(yīng)用過程中間需要注意的地方很多，下面列舉一些供參考:
1.在選擇輸入電容時(shí)盡量使用感抗小的電容，或者并聯(lián)一個(gè)0.01μf的陶瓷電容，并且要盡量的靠近開關(guān)晶體管和二極管。
2.輸出電容的等效電阻esr是影響穿刺噪聲大小的一個(gè)很重要的因素（vripple＝resr＊dil）,因此要正確的選擇一個(gè)電容就需要綜合考慮電容的價(jià)格，等效阻抗的大小和容值之間關(guān)系。由于陶瓷電容有很好的高頻特性，而且等效電阻esr也很小,實(shí)際應(yīng)用電路中盡量選擇可使用陶瓷電容的dc／dc轉(zhuǎn)換芯片;
3.在fet開關(guān)管的g端和dc／dc之間增加一個(gè)5－50毫歐的電阻;
4.在開關(guān)管和肖特基二極管的兩端各并聯(lián)一個(gè)rc緩沖回路;
5.選用逆向?qū)ɑ謴?fù)時(shí)間特性好的肖特基二極管，減少漏電流的流過;
6.當(dāng)電路中有非連續(xù)的大電流流過時(shí)，外置開關(guān)管和線圈之間的導(dǎo)線要盡量的短，而且盡量遠(yuǎn)離輸出接地端;
7.選擇使用閉磁類型電路的電感線圈;
8.在輸出端增加一個(gè)濾波電路（低通lc＆rc回路）;
9.在電路中增加一個(gè)鐵氧磁體器件可以濾除高頻雜波信號。
注意:
當(dāng)有誤動(dòng)作發(fā)生或者效率轉(zhuǎn)換低下的情況時(shí)，要首先檢查有旁路電容和地線連接的那部份線路。