ic卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測磁條卡，ic芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
ic卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)簡介：本儀器針對(duì)性ic卡在國標(biāo)gb/t 16649.1，國標(biāo)gb/t-17554.1-2006及iso10373和iso7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn);*符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
ic卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)技 術(shù) 參 數(shù)
1.型號(hào)：mx-ic
2.扭曲度：±15°±1°雙向d=86 mm
3.正反向各15°，總扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5hz
6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.長邊小位移量為2mm±0.50mm
8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.長邊小位移量為1mm±0.50mm
10.電壓：ac220v±5%
11.外形尺寸：l670 x w380 x h220
12.功率：35w
13.儀器重量：70kg
根據(jù)客戶要求訂制：雙向扭轉(zhuǎn)大工位數(shù)：10工位