*公司高壓支柱瓷絕緣子交接試驗現(xiàn)場檢測規(guī)程
1 總則
1.1為適應(yīng)電網(wǎng)的發(fā)展要求，提高支柱瓷絕緣子的安全可靠性，特制定本規(guī)程。
1.2本規(guī)程是依據(jù)國家和的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)程和規(guī)范并結(jié)合近年來*公司輸變電設(shè)備評估分析、生產(chǎn)運行情況分析以及設(shè)備運行經(jīng)驗而制定的。
1.3本規(guī)程對高壓支柱瓷絕緣子現(xiàn)場的交接、預(yù)防性試驗的項目內(nèi)容、判斷標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法，以及預(yù)防性試驗的檢測周期等提出了具體的要求。
1.4本規(guī)程適用于*公司系統(tǒng)110（66）kv及以上戶外高壓棒形支柱瓷絕緣子，其它類型支柱瓷絕緣子可參照執(zhí)行。
2 引用標(biāo)準(zhǔn)
jb／z 9674-1999 超聲波探測瓷件內(nèi)部缺陷
jb/t 10061－1999 a型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件
jb/t 10062－1999 超聲探傷用探頭性能測試方法
3 交接試驗
3.1.1 逐個試驗
高壓支柱瓷絕緣子的交接逐個試驗項目包括：
a） 外觀檢查（安裝前）
b） 高度檢查（安裝前）
c） 超聲波探傷檢測（安裝調(diào)試后）
3.2 交接試驗判斷標(biāo)準(zhǔn)
3.2.2 超聲波探傷試驗
支柱瓷絕緣子的超聲波探傷檢測，可選擇采用爬波檢測法、縱波斜探頭檢測法，推薦采用爬波檢測法。采用爬波法檢測發(fā)現(xiàn)缺陷時，可用縱波斜探頭探傷方法進行驗證，也可以爬波法驗證縱波斜探頭探傷發(fā)現(xiàn)的缺陷。
3.2.2.1 采用爬波探頭探傷方法進行檢測，出現(xiàn)下列情況之一者，應(yīng)予判廢。
a） 缺陷波高度超過1mm人工割口的波幅-距離曲線且裂紋長度超過lcm，應(yīng)予判廢。
b） 缺陷波高度超過lmm人工割口的波幅-距離曲線且裂紋長度在lcm以下，應(yīng)將缺陷記錄存檔，在下次檢測時觀察看裂紋有無變化，如果裂紋深度或長度增加，應(yīng)予判廢。
3.2.2.2 采用縱波斜探頭探傷方法進行檢測，出現(xiàn)下列情況之一者，應(yīng)予判廢。
a） 有缺陷波，裂紋深度超過lmm、長度超過lcm時，應(yīng)予判廢。
b） 有缺陷波，裂紋深度超過lmm、長度小于lcm時，應(yīng)將缺陷記錄存檔，在下次檢測時觀察裂紋有無變化，如果裂紋深度或長度增加，應(yīng)予判廢。
4 預(yù)防性試驗
4.2 超聲波探傷檢測
4.2.1 每批次支柱瓷絕緣子6年抽樣檢測1次，其抽樣規(guī)則參見附錄a，同時還應(yīng)滿足以下規(guī)則：
a） 某廠某批次支柱瓷絕緣子發(fā)生斷裂事故后，應(yīng)對該廠該批次支柱瓷絕緣子逐只進行一次超聲波探傷檢測。
b） 當(dāng)發(fā)現(xiàn)支柱瓷絕緣子出現(xiàn)裂紋，應(yīng)對該支柱瓷絕緣子所在變電所的同電壓等級的所有支柱瓷絕緣子逐只進行一次超聲波探傷檢測。同時應(yīng)對同一運行單位轄區(qū)內(nèi)，與缺陷支柱瓷絕緣子同廠同批次支柱瓷絕緣子逐只進行一次超聲波探傷檢測。
c） 抽樣超聲波檢測發(fā)現(xiàn)支柱瓷絕緣子存在嚴(yán)重缺陷時，應(yīng)對同一運行單位轄區(qū)內(nèi)，與缺陷支柱瓷絕緣子同廠同批次瓷絕緣子支柱瓷絕緣子逐只進行一次超聲波探傷檢測。
4.2.2 支柱瓷絕緣子的超聲波探傷檢測判廢依據(jù)見3.2.2。
支柱瓷絕緣子超聲波探傷檢測方法
c.1 一般規(guī)定
c.1.1 超聲波探傷儀的規(guī)定
超聲波探傷儀除應(yīng)滿足jb/t 10061-1999 《 a型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件》的技術(shù)要求技術(shù)外，還應(yīng)滿足下列要求：
c.1.1.1 探傷儀應(yīng)采用可存儲檢測波形的數(shù)字式超聲波探傷儀，探傷儀必須帶有通信接口，可通過程序與計算機進行數(shù)據(jù)交換，以便于對支柱絕緣子的缺陷波進行分析和存檔。
c.1.1.2 儀器工作頻率應(yīng)包括1～5mhz。
c.1.1.3 儀器標(biāo)稱探測深度應(yīng)不小于被測支柱絕緣子的被測深度。
c.1.1.4 衰減器的總衰減量不小于100db，衰減調(diào)節(jié)精度在±1 db以下。
c.1.1.5 當(dāng)探傷儀發(fā)射功率較大，且電源電壓在標(biāo)稱電壓±10%范圍內(nèi)變化時，水平線性不應(yīng)有明顯的變化。
c.1.2 探頭的規(guī)定
探頭頻率根據(jù)需要在1～5mhz范圍內(nèi)選擇，推薦為2.5 mhz。探頭聲速軸線水平偏離角不大于2°，主聲速垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。
c.1.3 耦合劑的規(guī)定
應(yīng)采用良好的聲耦合劑，必須保持耦合劑的清潔，且耦合劑不得對支柱絕緣子造成腐蝕等不良影響。
c.1.4 探傷試塊的規(guī)定
探傷試塊材質(zhì)的致密性應(yīng)良好，應(yīng)具有與被檢測的支柱瓷絕緣子相同或相近似的聲學(xué)性能。探傷試塊形狀為圓形實心瓷件，其上有均布四個方向的深度分別為1mm、3mm、5mm、7mm的人工割口缺陷。
c.2 探傷方法
支柱瓷絕緣子的超聲波探傷檢測，可選擇采用爬波檢測法、縱波斜探頭檢測法、現(xiàn)場推薦采用爬波檢測法進行測量。采用爬波法檢測發(fā)現(xiàn)缺陷時，可用縱波斜探頭探傷方法進行驗證，也可以爬波法驗證縱波斜探頭探傷發(fā)現(xiàn)的缺陷。
c.2.1 爬波探頭探傷方法
c.2.1.1 掃描速度的調(diào)整
爬波探頭前沿對準(zhǔn)試塊lmm人工割口，把反射波調(diào)到儀器水平刻度2之上，把探頭往后拉動4cm，使反射波落到儀器水平刻度6上，此時比例尺為1：1（即儀器水平刻度1格代表支柱絕緣子上1 cm的距離）。
c.2.1.2 裂紋波幅-距離曲線的確定
將爬波探頭置于試塊上，相對模擬裂紋以一定間距（如5mm）移動，在熒光屏上作出裂紋回波幅度隨探頭至裂紋水平距離變化的曲線，即距離-波幅曲線。
c.2.1.3 探傷靈敏度的調(diào)整
利用試塊的1mm人工裂紋距離-波幅曲線作為探傷靈敏度。
c.2.1.4掃查方式
徑向旋轉(zhuǎn)掃查。
c.2.1.5裂紋深度的確定
利用試塊作出lmm、3mm、5mm、7mm人工割口的距離-波幅曲線。
檢測時，相對移動探頭，每次間距為5mm，測出裂紋的波幅-距離曲線，將此曲線和上述裂紋波幅-距離曲線對比，即可確定裂紋的深度。
c.2.1.6裂紋長度的確定
徑向移動爬波探頭，缺陷回波波峰壓距離-波幅曲線時在探頭前沿中部所對應(yīng)的支柱絕緣子距離-波幅上，記下一點，向相同方向動探頭，當(dāng)缺陷波波峰回落到距離-波幅曲線上時，再在探頭前沿中部所對應(yīng)的距離-波幅上作一點記號，兩點連線即為裂紋的長度。
也可用半波高度法（6d8法）測定裂紋長度。
c.2.2 縱波斜探頭探傷方法及判傷標(biāo)準(zhǔn)
c.2.2.1 掃描速度的調(diào)整
按深度調(diào)整掃描速度，把探頭對準(zhǔn)試塊1mm人工割口，把反射波調(diào)到儀器水平刻度的適當(dāng)?shù)奈恢谩?br>c.2.2.2 靈敏度的選擇
探頭對準(zhǔn)試塊lmm人工割口，把反射波波高調(diào)到滿幅的80％，在此基礎(chǔ)上，衰減4～6 db作為探傷靈敏度。試塊聲程與工件不同時按下式計算δs：
δs= 40lg sa/xp
式中：δs—補償由于聲程不同而引起的缺陷波變化所需的增益或衰減值（db），sa—試品的zui大聲程（mm），xp一人工缺陷試樣zui大聲程（mm）
c.2.2.3 掃查方式
沿軸向和圓周方向移動探頭．
c.2.2.4裂紋長度的確定
用半波高度法（6d8法）測定裂紋長度