1、何謂耐壓測(cè)試?
耐壓測(cè)試是最常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之一，常見(jiàn)的dielectricwithstand、highpotential、hipottest都是指耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試dut(deviceundertest)的絕緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí)，對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以一高壓，測(cè)試是否有絕緣破壞(breakdown)或電氣閃絡(luò)(flashover/arc)發(fā)生。
2、在安規(guī)中絕緣有幾種類(lèi)型?
絕緣類(lèi)型分為四種：基本絕緣(basic)、輔助絕緣(supplementary)、雙重絕緣(double)以及加強(qiáng)絕緣(reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹?，因此也須以耐壓測(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計(jì)是否有沿面距離或絕緣不足等問(wèn)題。
3、在ac耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要realcurrent的判斷？
ac輸出總電流(totalcurrent)可能因部份內(nèi)部容抗而造成與真實(shí)測(cè)試電流(realcurrent)之間的差異。電流在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應(yīng)電流(reactive)會(huì)較大，而使得真實(shí)測(cè)試電流相對(duì)變小。若無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量輸出電流與加以補(bǔ)償，會(huì)造成測(cè)試上的盲點(diǎn)。
4、在dc耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩升時(shí)間？
dc耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間，因?yàn)榇蠖嗟膁ut具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(chargecurrent)穩(wěn)定，需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖，才不會(huì)因充電電流而導(dǎo)致漏電流過(guò)高，進(jìn)而判斷為不良品(fail)。
5、在做耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩降時(shí)間？
耐壓測(cè)試會(huì)使dut充電，因此在耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí)須一段時(shí)間來(lái)進(jìn)行放電，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)將放電時(shí)間減至最少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會(huì)明顯標(biāo)示危險(xiǎn)警告，以防止測(cè)試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。
6、何謂絕緣電阻測(cè)試?
絕緣阻抗測(cè)試和直流耐壓測(cè)試是非常相似的，於相關(guān)連的兩點(diǎn)施以直流電壓(50~1000v)，可判定良品及不良品。絕緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測(cè)絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測(cè)試再進(jìn)行耐壓測(cè)試，而絕緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí)，往往耐壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。
7、為何需要做電壓補(bǔ)償?
在耐壓測(cè)試中，測(cè)試電壓的標(biāo)準(zhǔn)是判斷良品的主要因素之一。許多耐壓測(cè)試設(shè)備以變壓器將低電壓轉(zhuǎn)換為高電壓後輸出，但儀器的內(nèi)部阻抗會(huì)造成分壓，尤其在一些品質(zhì)不良的耐壓測(cè)試設(shè)備中，實(shí)際輸出電壓無(wú)法達(dá)到安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。為避免失誤判定為良品而造成不必要的困擾，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)以自動(dòng)增益補(bǔ)償(autogaincompensation)修正與補(bǔ)償電壓至所須電壓值，并將電壓表設(shè)計(jì)於輸出端，以便正確量測(cè)輸出電壓是否不足。