電路板阻抗測(cè)試儀的詳細(xì)描述：
用途：特性阻抗測(cè)試系統(tǒng)是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的，能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試pcb跡線(xiàn)的特性阻抗，并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印等功能。適用于電路板制造廠(chǎng)商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線(xiàn)路板特性阻抗測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。
電路板阻抗測(cè)試儀常見(jiàn)問(wèn)題解決方法：
1.水平分辨率顯示部分網(wǎng)格消失：
產(chǎn)生原因：水平分辨率調(diào)節(jié)過(guò)小導(dǎo)致。
解決方法：水平分辨率調(diào)節(jié)到用戶(hù)需要的即可。
2.連續(xù)48小時(shí)開(kāi)機(jī)，日志沒(méi)有及時(shí)更新：
產(chǎn)生原因：機(jī)器在長(zhǎng)時(shí)間會(huì)有自保護(hù)功能。
解決方法：重新開(kāi)啟軟件。
3.校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)數(shù)值誤差偏高：
產(chǎn)生原因：誤操作導(dǎo)致。
解決方法：關(guān)機(jī)1個(gè)小時(shí)，重新開(kāi)啟進(jìn)行校準(zhǔn)。
4.單項(xiàng)刪除出現(xiàn)軟件報(bào)錯(cuò)：
產(chǎn)生原因：操作過(guò)快導(dǎo)致。
解決方法：需要重新開(kāi)啟軟件。
電路板阻抗測(cè)試儀特點(diǎn)：
1.顯示測(cè)試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果。
2.打印測(cè)試報(bào)表、波形及測(cè)試結(jié)果。
3.符合ipc-tm-650和ipc2141標(biāo)準(zhǔn)
4.提供單端和差分阻抗測(cè)試。
5.支持2通道、4通道及8通道測(cè)試。
6.快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測(cè)試功能。
7.集成測(cè)試文件編輯器，快速設(shè)置測(cè)試參數(shù)。
8.自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，生成報(bào)表并保存在磁盤(pán)上。
9.批量化、自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單、測(cè)試快捷，適合pcb工廠(chǎng)快速測(cè)試。
10.windows操作環(huán)境，友好的人機(jī)界面，自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果