輻照計是一款便攜式自動量程的測試儀器。它采用smt貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強，可以用來測量可見光輻照度，廣泛應用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、衛(wèi)生、科研等各個領域。產(chǎn)品特點：光譜及角度特性經(jīng)校正數(shù)字液晶顯示，帶背光手動/自動量程切換數(shù)字輸出接口（usb,冗余供電）低電量提醒自動延時關機有數(shù)字保持輕觸按鍵操作，蜂鳴提示技術參數(shù)：波長范圍λ1：（400～1000）nm二選一波長范圍λ2：（725～1050）nm輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103) μw/cm2相對示值誤差：±5％（相對于nim標準）余弦特性誤差f2：4%線性誤差f3：±1%換檔誤差f4：±1%疲勞誤差f5：-0.5%響應時間：<1秒使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％rh尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg電 源：6f22型9v積層電池（非充電電池）整機功耗：＜0.1va標準配置：讀數(shù)顯示單元1個探頭1個探頭蓋1個數(shù)據(jù)線1根說明書1 份合格證/保修單1份9v積層電池1個儀器包裝箱1個
紫外輻照計執(zhí)行企業(yè)標準q/hdsdy0003－2014。紫外輻照計采用smt貼片技術，選用精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。產(chǎn)品特點：光譜及角度特性經(jīng)校正數(shù)字液晶顯示，帶背光手動/自動量程切換數(shù)字輸出接口（usb,冗余供電）低電量提醒自動延時關機有數(shù)字保持輕觸按鍵操作，蜂鳴提示技術參數(shù)：波長范圍λ1，峰值波長λp：（320～400）nm，λp＝365nm用戶二選一波長范圍λ2，峰值波長λp：（375～475）nm，λp＝420nm輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103) μw/cm2紫外帶外區(qū)雜光：0.02%相對示值誤差：±8％（相對于nim標準）角度響應特性：±5% （α≤10°）線性誤差：±1%換檔誤差：±1%短期不穩(wěn)定性：±1%（開機30min后）疲勞特性：衰減量<2%零值誤差：滿量程的±1%響應時間：<1秒使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％rh尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg電 源：6f22型9v積層電池（非充電電池）
整機功耗：＜0.1va
標準配置：讀數(shù)顯示單元1個探頭2個（365或者420）探頭蓋2個數(shù)據(jù)線1根說明書1份合格證/保修單1份9v積層電池1個儀器包裝箱1個