電子基片薄膜應(yīng)力形變分析儀激光波長:650nm±30nm

發(fā)布時間:2024-03-31
該儀器采用了主動擾動抑制技術(shù)、快速應(yīng)力形變分析算法、共光路橫向錯位干涉、二維偏振相移等技術(shù),大口徑、大面形、抗高溫空氣擾動等關(guān)鍵技術(shù)。可對6英寸樣品應(yīng)力和形變進行全場、快速、直接測試。適用于微電子、光電子器件科研生產(chǎn)中電子基片和薄膜的面形分布、應(yīng)力分布和應(yīng)力釋放過程的測試,為提高電子元器件質(zhì)量和可靠性提供數(shù)據(jù)支持??蓽ysi、caas、ingaas和ge等具有反光性能的薄膜或拋光片基片和薄膜面形測試薄膜應(yīng)力分布測試;應(yīng)力和形變釋放過程測試變溫基片形變和薄膜應(yīng)力測試;具有測試過程數(shù)據(jù)記錄功能,輸出結(jié)果類型:三維立體顯示、二維偽彩色顯示、數(shù)據(jù)表格、溫度與應(yīng)力曲線技術(shù)參數(shù):測試樣片尺寸:2~6英寸激光波長:650nm±30nm激光功率:≥15mw樣品溫控范圍:室溫~200℃溫度均勻性:±2%±2℃溫度控制精度:±2%±1℃溫度顯示分辨率:0.1℃曲率半徑測試范圍:∣r∣≥8m曲率半徑測試精度:5%應(yīng)力測量范圍:50mpa~1gpa應(yīng)力重復(fù)測量精度:±10%±10mpa應(yīng)力測量顯示分辨率:10mpa測試時間:≤3min/片電源:ac 220(1±10%)v,50(1±5%)hz功耗:≤350w結(jié)構(gòu)特征:臺式外形尺寸(w×h×d):≤520mm×630mm×850mm重量:約80kg
3052型紅外氣體分析儀
紅外氣體分析儀適用于常量、微量的二氧化硫分析儀、一氧化碳分析儀、二氧化碳分析儀、甲烷分析儀等氣體的分析,全量程覆蓋,包括0-100ppm,0-1000ppm,0-1%,0-10%,0-100%標準3u機箱,能安裝在成套設(shè)備中大屏幕lcd顯示,全中文菜單操作,且有操作提示功能,操作簡單、高效標準rs232數(shù)字通訊功能,可直接與電腦或dcs連接 ,可選配配有標準上位機軟件輸出為同步、隔離的(0/2/4-20)ma及(0/0.5/1-5)v信號可選,默認為(4-20)ma和(1-5)v,電流輸出負載≤400ω,電壓輸出負載≥250ω具有故障、b警指示與提示功能可存儲3000條完整記錄,峰值可查詢可選配微型打印機工作原理:該紅外氣體分析儀可用于二氧化硫分析儀、二氧化碳分析儀、一氧化碳分析儀、甲烷分析儀等。屬于電調(diào)制非分光式(ndir)紅外線氣體分析器,其工作原理是基于不同種類的氣體對紅外線的選擇性吸收效率不同。儀器采用單光源、單管隔半氣室及檢測器,分析精度高、穩(wěn)定性好。技術(shù)參數(shù):檢測原理:紅外線檢測方式:泵吸式重復(fù)性: ≤±1%零點漂移:≤±1%f.s/15d量程漂移:≤±1%f.s/15d線性誤差:≤±1%f.s分辨率:0.01%f.s響應(yīng)時間:t90≤15s被測氣體的流量:0.5~3l/min使用環(huán)境溫度:-10~55℃;相對濕度:≤90%電源:220v±10% ;50±0.5hz 150w測量值輸出:0~20ma; 0~10mv; 4~20ma;1~5v(按用戶要求提供,在*大負載600ω內(nèi)不受負載影響,數(shù)字式顯示。)應(yīng)用領(lǐng)域:紅外氣體分析儀,高精度紅外氣體分析儀,北京紅外氣體分析儀,紅外氣體分析儀,一氧化碳分析儀,二氧化硫分析儀,二氧化碳分析儀,甲烷分析儀,碳氫分析儀,四氯化碳分析儀,六氟化硫分析儀,氨氣分析儀
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