高溫介電溫譜儀的用途
hcwp-s系列高低溫材料介電參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是我司開發(fā)研制的全系列寬頻、寬溫區(qū)材料介電參數(shù)測(cè)量?jī)x（介電溫譜儀）華測(cè)公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)，高溫測(cè)試夾具與wk6500系列、測(cè)量設(shè)備無縫連接，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。另外，還可以硌腳用戶提供的其他lcr品牌或型號(hào)完成定制需求。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)，通過測(cè)量c和d值，自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線。一次測(cè)量，同時(shí)輸出，測(cè)量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣，是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)和研究新材料的重要測(cè)量手段。在生產(chǎn)質(zhì)量控制和優(yōu)化上也是強(qiáng)有力的工具。
主要用途
用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗z、電抗x、導(dǎo)納y、電導(dǎo)g、電納b、電感l(wèi)、介電損耗d、品質(zhì)因數(shù)q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線?？蓮V泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗z、電抗x、導(dǎo)納y、電導(dǎo)g、電納b、電感l(wèi)、介電損耗d、品質(zhì)因數(shù)q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線?？蓮V泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。
可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
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