長(zhǎng)霉對(duì)產(chǎn)品的影響主要有以下三個(gè)方面：
原發(fā)性影響：霉菌即使對(duì)材料只發(fā)生輕微的損害，絕緣材料表面由于濕潤(rùn)的菌絲層形成導(dǎo)電通路而大幅度降低絕緣電阻，嚴(yán)重地會(huì)引起電路頻率和阻抗特性發(fā)生重大的變化。材料一旦受到霉菌侵蝕會(huì)導(dǎo)致機(jī)械強(qiáng)度下降和其他物理性能的變化。
繼發(fā)性影響：霉菌在材料上生長(zhǎng)，能夠產(chǎn)生有機(jī)酸和其他電解質(zhì)等代謝產(chǎn)物，而對(duì)材料產(chǎn)生繼發(fā)性影響。這種侵蝕會(huì)導(dǎo)致材料電解和老化。又因菌絲體具有吸水作用，形成了飽和的海綿層，即使外界濕度很低，菌絲體仍能在試驗(yàn)體內(nèi)維持高濕狀態(tài)，導(dǎo)致元件受潮損壞。長(zhǎng)霉即有損新產(chǎn)品外觀，又伴有難聞的霉味。
關(guān)聯(lián)性影響：由于現(xiàn)代化設(shè)備的微型結(jié)構(gòu)和相互聯(lián)結(jié)，設(shè)備的一處長(zhǎng)霉可能會(huì)對(duì)不允許長(zhǎng)霉的其他元件和微型件產(chǎn)生影響。因此，當(dāng)考慮對(duì)單一分組件或元件的直接或間接影響時(shí)，必須對(duì)整機(jī)性能可能 產(chǎn)生的影響給予評(píng)定。
長(zhǎng)霉試驗(yàn)通常限于檢驗(yàn)是否用了適當(dāng)?shù)脑筒牧?。通過(guò)材料元件、零部件或小的組合件等試驗(yàn)，很容易正確地獲得所需要的許多重要數(shù)據(jù)；長(zhǎng)霉試驗(yàn)是對(duì)試驗(yàn)新產(chǎn)品準(zhǔn)備運(yùn)行非常有利霉菌生長(zhǎng)條件下所作的zui后檢測(cè)。通過(guò)試驗(yàn)可以檢測(cè)出具有良好設(shè)計(jì)性能的產(chǎn)品發(fā)生任何故障的性質(zhì)。
綜上所述，長(zhǎng)霉（霉菌）試驗(yàn)是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長(zhǎng)的氣候條件下的長(zhǎng)霉程度和由于長(zhǎng)霉引起的表面變化和性能影響。