高溫低電阻測(cè)試儀簡介
高溫 高電阻 高精度
一、高溫低電阻測(cè)試儀簡介
hest-900高溫低電阻測(cè)試儀器采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度 芯片控 ad制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購。
目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，這種方式也易存在感應(yīng)電流，無法實(shí)現(xiàn)溫度的高精度測(cè)量，也加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，本設(shè)備在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。 可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻 ，用石英管保護(hù)加熱式樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵眨叱黾兌葰怏w中加熱 。大大提高**度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途.
hgtz-800 labview hcpro 系統(tǒng)搭配 系統(tǒng)開發(fā)的 軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。
華測(cè)公司為國內(nèi)一家針對(duì)新材料電性能檢測(cè)儀器全系列廠家。
高溫低電阻測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測(cè)試。
高溫低電阻測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)小于±0 .25 ℃溫 度測(cè)量誤差（限反射爐）。
二、高溫低電阻測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)
1、整體為桌面型設(shè)計(jì)，采用紅外燈加熱，無保溫爐膛結(jié)構(gòu)，滿足實(shí)驗(yàn)室無灰塵排放的要求。
2、內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏，可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線，并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控制。
3、定點(diǎn)控溫模式下，可以將樣品 1 0s內(nèi)加熱到 1000攝氏度。
4、控溫加熱下，可以5度/s 速率下線性加熱到1000 攝氏度。
5、在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1 小時(shí)。
6、采用鉑銠熱電偶直接測(cè)定樣品附近溫度。
7、樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
8、配備真空泵，水冷設(shè)備，配備超溫、缺水、過流等報(bào)警保護(hù)裝置。
9、溫度均勻區(qū)：60 m m *1 0 0m m。
10、公司開發(fā)的高溫低電阻測(cè)試系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具與keithley（吉時(shí)利）系列、2400、 2450、 2600 系列源表測(cè)量設(shè)備無縫連接。
三、高溫低電阻測(cè)試儀硬件配置：
█ 集成intel@celeron 1037u 1.8ghz 雙核處理器
█ 集成打機(jī)印接口，可擴(kuò)充8 個(gè) usb 接口
█ 支持16g 內(nèi)存， 60g固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行更加流暢
軟件功能：
測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)huacepro labview ，采用labview 系統(tǒng)開發(fā)，符合絕緣材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。支持*新的國際標(biāo)準(zhǔn)，兼容xp 、win7 、 win10系統(tǒng)。
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無須等待；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；
█ 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
█ 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
2、溫度高精度控制
過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以**控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。
四、高溫低電阻測(cè)試儀產(chǎn)品應(yīng)用：
█ 多晶硅材料
█ 石墨功能材料
█ 導(dǎo)電功能薄膜材料
█ 導(dǎo) 電玻璃（ito ）材料
█ 石墨烯材料
█ 半導(dǎo)體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明 導(dǎo)電薄膜
█ 其它導(dǎo)電材料等
功能特點(diǎn)：
█ 多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)、高溫、真 空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試
█ 采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度；
█ 可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率；
█ 可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的i-v、r-t等測(cè)量功能;
█ 進(jìn)口溫度傳感器、pid自動(dòng)溫度控制，使測(cè)量溫度更精準(zhǔn)；
█ 儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pv;
█ 10寸進(jìn)口觸摸屏設(shè)計(jì)，一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu)，更加穩(wěn)定、可靠；
█ 程控電子升壓技術(shù)，紋波更低、tvs防護(hù)系統(tǒng)，保證儀器安全性；
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
█ huace pro 強(qiáng)大的控制分析軟件。
技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：室溫-1000℃, （反射爐加溫 ）配水冷機(jī)；
2、控溫精度：（溫控國內(nèi)*高） ±0 5℃ ；
3、測(cè)量精度： ± 0.25℃；
4、升溫斜率：20℃/min （可設(shè)定）；
5、降溫斜率： 1-200℃/min ( 自調(diào)整）；
6、測(cè)量精度：0.5%；
7、樣品規(guī)格：直徑： 20mm 以內(nèi)；厚度： 5mm以內(nèi)；
8、電極材料：鉑金;
9、測(cè)量方式：2 線- 4線測(cè)量方式；
10、測(cè)量范圍： 0.1uω- 100mω
11、供 電：220v±10%，50hz；
12、工作環(huán)境：0℃ - 55℃；
13、存儲(chǔ)條件:- 40℃-70℃；
14、尺 寸：750mmx660mmx360mm；
15、重 量： kg 25
產(chǎn)品型號(hào)
溫度范圍
設(shè)備功能
hest-901
室溫-800c°
單組試樣；片狀樣品；四探針法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環(huán)境
hest-902
室溫-1200c°
單組試樣；片狀樣品；四探針法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環(huán)境
hest-903
室溫-1450c°
單組試樣；片狀樣品；四探針法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環(huán)境
應(yīng)用案例：
清華大學(xué)材料學(xué)院、北京理工大學(xué)、同濟(jì)大學(xué)、中科院熱物理所、*大學(xué)、山東大學(xué)、華南理工大學(xué)等