werth flatscope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測(cè)量平面類零件，如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu)，平面光源位于頂部機(jī)蓋，ccd變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面，可同時(shí)測(cè)量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。作為測(cè)量?jī)x器，該掃描儀是當(dāng)今**上測(cè)量二維工件的二維大家好，下面由小編分享給大家《德國(guó)werth flatscope平面零件光學(xué)掃描儀產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商》。下面詳細(xì)解釋一下?，F(xiàn)在讓我們來看看!德國(guó)werth flatscope平面零件光學(xué)掃描儀全系列產(chǎn)品型號(hào)齊全，質(zhì)量保證，售后完善，歡迎在線咨詢:誠(chéng)信并重視每一位客戶，提供一對(duì)一專業(yè)服務(wù)~ werth flatscope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測(cè)量平面類零件，如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu)，平面光源位于頂部機(jī)蓋，ccd變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面，可同時(shí)測(cè)量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。
作為測(cè)量?jī)x器，該掃描儀是當(dāng)今**上測(cè)量二維工件的二維掃描儀）.
主要特點(diǎn)：
◆高速的矩陣式掃描系統(tǒng)，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的二維測(cè)量
◆工業(yè)圖像處理系統(tǒng)，掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
◆被測(cè)工件可任意位置放置
◆模塊化的測(cè)量軟件
◆利用投射光和透射光進(jìn)行工件掃描
◆快捷方便的winwerth評(píng)估軟件
◆winwerth軟件cad在線和公差擬合測(cè)量
◆平面光源
◆精度采用高標(biāo)準(zhǔn)雙邊標(biāo)定
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍（玻璃工作臺(tái) 尺寸）:
x = 400/650mm
y = 200/400/600mm
工件高度：z = 100mm
光柵尺分辨率：0.1μm
測(cè)量機(jī)允許誤差:
變焦:
1)e1: (2.5+l/120) μm
e2: (2.9+l/100) μm
固定鏡頭 0.4x:
2)e1: (4.9+l/100) μm
e2: (4.9+l/75) μm
固定鏡頭 0.2x:
2)e1: (9+l/100) μm
e2: (9+l/75) μm
1)20℃±2o δ=1o/h 5x鏡頭 2)20℃±2度 δ=1度/h
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) iso 10360 和 vdi/vde 2617
以上說明了德國(guó)werth flatscope平面零件光學(xué)掃描儀產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商。