1.當(dāng)超聲波探傷儀斜探頭的入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在工件中孕育產(chǎn)生外貌波，外貌波探頭用于探測(cè)外貌或近外貌缺陷。
2.雙晶探頭有兩塊壓電晶片，一塊用于發(fā)射超聲波，另一塊用于汲取超聲波。根據(jù)入射角差異，分為雙晶縱波探頭和雙晶橫波探頭。
雙晶探頭具有以下好處：
(1) 敏銳度高
(2) 雜波少盲區(qū)小
(3) 工件中近場(chǎng)區(qū)長度小
(4) 探測(cè)范疇可調(diào)雙晶探頭緊張用于探傷近外貌缺陷。聚焦探頭種類較多。
3. 超聲波探傷儀探頭型號(hào)探頭型號(hào)的組成項(xiàng)目及分列序次如下：根本頻率-晶片質(zhì)料-晶片尺寸-探頭種類-特征