物位測量有哪些方法?

發(fā)布時間:2024-07-31
常見的也是直觀的物位測量方法是直讀式,它是在容器上開一些窗口以便進(jìn)行觀測。對于液位測量,可以使用與被測容器相連通的玻璃管(或玻璃板)來顯示容器內(nèi)的液體高度。這種方法很可靠、結(jié)果準(zhǔn)確,但它只能用于容器壓力不高,只需現(xiàn)場指示的被測對象。
在工業(yè)生產(chǎn)中,被測介質(zhì)的特性千差萬別,物位測量的方法很多以適應(yīng)各種不同的測量要求,可把它們歸納為以下幾個測量原理:
1、基于力學(xué)原理
敏感元件所受到的力(壓力)的大小與物位成正比,它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測量等。其中:
⑴ 靜壓式物位測量
靜壓式物位測量是根據(jù)流體靜力學(xué)原理,液體內(nèi)某一點的壓力與其所在位置的深度有關(guān),因此可以用靜壓力表示液位,如連通器式、壓差式和壓力式等。
⑵ 浮力式液位測量
浮力式液位測量是根據(jù)浮在液面上的浮球或浮標(biāo)隨液位的高低而產(chǎn)生上下位移,或浸于液體中的浮筒隨液位變化而引起浮力的變化的原理來測量的。前者一般稱為恒浮力式測量;后者稱為變浮力式測量。
⑶ 重錘式料位測量
重錘式料位測量是利用測量重錘從倉頂?shù)搅厦娴木嚯x的來測量料位的。
2、基于相對變化原理
當(dāng)物位變化時,物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變,通過測量距離的相對變化可獲得物位的信息。這是一種非接觸式的物位測量方法,這種測量原理包括聲學(xué)法、微波法和光學(xué)法等。其中:
⑴ 聲學(xué)式物位測量
聲學(xué)式物位測量利用超聲波在一定狀態(tài)介質(zhì)中的傳播具有一定速度的特性,當(dāng)聲源與物位(分界面)的距離變化時,回聲的時間(從發(fā)射到接收超聲波的時間間隔)也要改變。根據(jù)回聲的時間的變化就可測量出物位的變化。
⑵ 微波式物位測量
微波式物位測量是利用回聲測量距離的原理工作的。
⑶ 激光式物位測量
激光式物位測量與超聲波類似。
3、基于某強度性物理量隨物位的升高而增加的原理
例如對射線的吸收強度,電容器的電容量等。其中:
⑴ 核輻射式物位測量
核輻射式物位測量是利用核輻射線穿透物體的能力以及物質(zhì)對放射性射線的吸收特性進(jìn)行測量的。目前在物位測量中,一般都采用穿透能力強的γ射線,其放射源采用60co、137cs等同位素。
⑵ 電氣式物位測量
電氣式物位測量是利用敏感元件直接把物位變化轉(zhuǎn)換為電量參數(shù)的變化。根據(jù)電量參數(shù)的不同,可分為電阻式、電感式和電容式等。目前電容式為常見。
在上述介紹的物位測量技術(shù)中,靜壓式、浮力式只用于液位的測量,重錘式只用于粉狀料位的測量,其余的既可用于液位,也可用于粉狀料位測量。其中,聲學(xué)式、光學(xué)式、微波式及核輻射式屬于非接觸測量。
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