分享納米激光粒度儀的技術優(yōu)勢

發(fā)布時間:2024-07-20
納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380dls基礎上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(dynamiclightscattering,dls)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍0.3nm–10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯(gaussian)單峰算法和nicomp多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢。
技術優(yōu)勢
1.pmt&apd雙檢測器自由選配;
2.可搭配不同功率光源;
3.精度高,接近樣品真實值;
4.快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);
5.結果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);
6.符合usp,cp等個多藥典要求;
7.無需校準;
8.復合型算法:
高斯(gaussion)單峰算法與nicomp多峰算法自由切換
9.模塊化設計便于維護和升級;
可自動稀釋模塊(選配);
自動進樣系統(tǒng)(選配);
搭配多角度檢測器(選配);
上一個:電腦配置清單表4000左右(電腦配置清單表2000至3000)
下一個:渦凹溶氣氣浮機工作原理

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