材料腐蝕的電化學測試方法局限于整個樣品的宏觀測試, 測試結果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計結果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機理.為進行局部表面科學研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領域的廣泛應用。
掃描電化學顯微鏡（scanning electrochemistry microscopy，secm）是一種基于超微電極的掃描微探針電化學技術，它將一支可以進行三維方向移動的超微盤電極作為工作探針沉浸在電解質(zhì)溶液中，在離基底約幾微米的位置進行掃描，通過探針上的電流變化來反映基底的形貌和性質(zhì)。
secm是基于 70 年代末超微電極（ultramicroelectrode，ume）和 80 年代初掃描隧道顯微鏡（scanning tunneling microscopy，stm）發(fā)展起來的具有一定空間分辨率（介于普通光學顯微鏡和 stm）的電化學原位檢測方法，其核心是電化學和原位檢測。secm 的檢測信號是電流或者電位，因而具有化學反應物質(zhì)靈敏性，既而不但可以研究探頭或者基底電極上的異相反應電荷轉(zhuǎn)移動力學和溶液中的均相反應動力學，甚至界面雙電層信息，還可以原位分辨表面微區(qū)電化學不均勻性，可以彌補掃描電鏡等不能直接提供電化學活性信息的不足，這對于腐蝕研究具有重要的意義。