工業(yè)ct(計算機斷層掃描)作為一種先進(jìn)的無 損檢測技術(shù)已廣泛應(yīng)用于航空、航天、軍工、國防等 領(lǐng)域,這些領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品的質(zhì)量要求較為嚴(yán)格,產(chǎn)品的 內(nèi)部結(jié)構(gòu)、有無缺陷以及缺陷的類型與大小直接影響對產(chǎn)品合格與否的判定。實驗室若想得到高質(zhì)量的ct圖像,需對以上3個因素進(jìn)行把控,下面主要分析影響空間分辨率、密度分辨率和偽像的因素。
空間分辨率
空間分辨率是指從ct 圖像中能夠分辨特定的最小幾何細(xì)節(jié)的能力,定量表示為能分辨兩個細(xì)節(jié)特征的最小間距?？臻g分辨率是影響圖像質(zhì)量的首要因素,其受有效射束寬度的影響,有效射束寬度越小,物理意義上系統(tǒng)的臨界空間分辨率越高。
密度分辨率
密度分辨率,又稱為低對比度分辨率,是系統(tǒng)分辨給定物體斷層截面射線衰減系數(shù)差別(對比度)的能力。定量表示為給定面積上能夠分辨的細(xì)節(jié)與基體材料的最小對比度。密度分辨率的影響因素有圖像噪聲、像素寬度、經(jīng)驗系數(shù)等,其中,影響ct系統(tǒng)密度分辨率的一個重要因素是系統(tǒng)噪聲,噪聲增大,ct系統(tǒng)能夠分辨的最小物體對比度也增大。
偽像
偽像是與物體的物理結(jié)構(gòu)不相符的圖像特征。產(chǎn)生偽像的原因有很多,測量過程中的一系列誤差都可能造成測量數(shù)據(jù)的不一致,從而引起偽像,如機械系統(tǒng)精度不夠、射線源輸出能量不穩(wěn)定、穿透力不足、探測器通道之間不均勻及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)電路噪聲大等,特別要說明的是掃描工藝不適當(dāng)時會產(chǎn)生嚴(yán)重的偽像,因此,檢測人員是否有充足的經(jīng)驗也是偽像產(chǎn)生的重要影響因素。