近日，國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第33部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序 應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)》《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第40部分：傳輸特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序 衰減》編制完成并征求意見，時(shí)間截止到2023年5月23日。主要起草單位為中國信息通信科技集團(tuán)有限公司。
《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第33部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序 應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)》
本文件規(guī)定了五種確定應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)的主要試驗(yàn)方法,確立了有關(guān)石英光纖應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)測(cè)量的統(tǒng)一試驗(yàn)程序和技術(shù)要求。本文件適用于a1、a2、a3類多模光纖、b類和c類單模光纖的測(cè)量。
iec對(duì)光纖應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)方法的標(biāo)準(zhǔn)做了更新，2008年以來，iec 60793-1-33 edition 2.0在2017年8月進(jìn)行了更新，新版標(biāo)準(zhǔn)中，適用范圍從b1類擴(kuò)大到全部b類單模光纖，且增加了c類單模光纖，更改了基準(zhǔn)試驗(yàn)方法的規(guī)定。為了確保國家標(biāo)準(zhǔn)的先進(jìn)性,因此有必要對(duì)gb/t 15972.33——2008進(jìn)行修訂。
本文件代替gb/t 15972.33-2008《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第33部分:機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序——應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)》。本文件與gb/t 15972.33-2008相比，主要技術(shù)變化如下:
a)更改了“范圍”的適用光纖類型，增加了a3類多模光纖和c類單模光纖(見第1章，2008年版的第1章)﹔
b)更改了基準(zhǔn)試驗(yàn)方法，取消了軸向張力法作為基準(zhǔn)試驗(yàn)方法的規(guī)定，基準(zhǔn)試驗(yàn)方法待討論(見第4章，2008年版的第3章)﹔
c)更改了斷裂應(yīng)力的公式a.2、中值斷裂應(yīng)力隨恒定應(yīng)力速率變化的公式a.7、截距公式a.8和斷裂應(yīng)力對(duì)應(yīng)力速率的動(dòng)態(tài)疲勞曲線圖a.4(見附錄a.5.3，2008年版的附錄a.5.3) ;
d)更改了中值斷裂應(yīng)力隨恒定壓板速度變化的公式b.5、截距公式b.6和動(dòng)態(tài)疲勞數(shù)據(jù)圖b.3(見附錄b.5.2，2008年版的附錄b.5.2) ;
e)更改了線性回歸公式c.1和截距公式c.2(見附錄c.5.3，2008年版的附錄c.5.3);
f)更改了兩點(diǎn)彎曲靜態(tài)疲勞裝置示意圖d.1(見附錄d，2008年版的附錄d)
g)更改了動(dòng)態(tài)應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù) na的數(shù)值算法的公式(見附錄f.2，2008年版的附錄f.2);
h)更改了計(jì)算斷裂應(yīng)力的方法(見附錄f.3，2008年版的附錄f.3) ;
i)更改了斷裂強(qiáng)度對(duì)“有效”斷裂時(shí)間的系列試驗(yàn)結(jié)果圖h.1和圖h.2(見附錄h，2008版的附錄h)。
《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第40部分：傳輸特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序 衰減》
本文件規(guī)定了光纖的衰減特性的試驗(yàn)方法,確立了有關(guān)光纖衰減參數(shù)測(cè)量的統(tǒng)一試驗(yàn)程序和技術(shù)要求。本文件適用于對(duì)a類和b類光纖和光纜的衰減特性測(cè)量。
iec對(duì)光纖衰減特性的標(biāo)準(zhǔn)做了更新，2001年以來，iec 60793-1-40edition 2.0在2019年3月進(jìn)行了更新,主要新增了b6類單模光纖測(cè)量和a4類多模光纖校準(zhǔn)的詳細(xì)要求。為了確保國家標(biāo)準(zhǔn)的先進(jìn)性，有必要對(duì)gb/t 15972.40——2008進(jìn)行修訂。
本文件代替gb/t 15972.40-2008《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第40部分:傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序-衰減》。本文件與gb/t15972.40-2008相比，主要技術(shù)變化如下:
a)增加了光纖衰減均勻性的規(guī)定(見3.4和4.4);
b)增加了測(cè)量和試驗(yàn)的環(huán)境條件(見6);
c)增加了b6類光纖中濾除高階模細(xì)節(jié)規(guī)定(見a.2.2.4);
d)更改了a1類多模光纖注入條件的適用光纖類型，不限于漸變折射率型(見附錄a.2.3;見2008年版a.1.3);
e)增加了對(duì)a1類多模光纖衰減的測(cè)試長(zhǎng)度細(xì)節(jié)規(guī)定(見a.2.3.1);
f)更改了a1類多模光纖光學(xué)注入規(guī)定(見a.2.3.2;見2008年版a.1.3.2g)增加了al類多模光纖攪模器的示例(見a.2.3.3)；
h)更改了a2、a3、a4類多模光纖注入裝置的適用光纖類型，不限于突變折射率型(見a.2.4;見2008年版a.1.4);
i)增加了方法a中a4類多模光纖的校準(zhǔn)規(guī)定(見a.2.5.2);
j)增加了方法b的校準(zhǔn)規(guī)定(見b.2.3);
k)更改了方法c測(cè)試的細(xì)節(jié)規(guī)定，將注的內(nèi)容改為正文(見c.2.6，見2008年版c.1.5);
l)更改了方法c試樣處理細(xì)節(jié)規(guī)定，將注的內(nèi)容改為正文(見c.3，見2008年版c.2);
m)增加了方法c的校準(zhǔn)規(guī)定(見c.4.6);
n)增加了a1類短段多模光纖測(cè)量結(jié)果示例(見附錄e)。
相關(guān)資料下載：
第40部分：傳輸特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序 衰減.rar
第33部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序 應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù).rar